反射率測定装置｜その他｜株式会社渋谷光学

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現

渋谷光学では中国企業とのパートナーシップを活かし
コストパフォーマンスの高い反射率測定装置をご提供しています。

特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。
（薄板0.2㎜の反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）
レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）
低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、
16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）
色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。

型番	MSP-100B MSP-100IR MSP-100UV
測定波長	MSP-100B: 350～1100nm MSP-100IR: 900～1700nm MSP-100UV: 230～800nm
測定再現性(B型)	±0.2％(380～450nm) ±0.02％(451～950nm) ±0.2％(951～1050nm)
測定S/N比(B型）	1000:1(400nm-900nm)
試料側N.A.	N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時)
試料の測定範囲	φ50μm(10×対物レンズ使用時)
試料の曲率半径	-1R～-∞、+1R～∞
表示分解能	1nm
測定時間	数秒～十数秒(サンプリング時間により異なる)
外形寸法	(W)230×(H)605×(D)510mm(本体のみ)
重量	15KG
電源ユニット	供給電源：100-240VAC 消費電力：80W 出力ランプ電圧：5-10VDC 外形寸法：(W)231×(H)130×(D)220mm 重量：2.5KG 使用温度範囲：18～28℃ 使用湿度：60％以下(結露なきこと