レーザー平面干渉計G100M｜その他

中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。

型番	G100M
測定方法	フィゾーの干渉原理
有効通光口径	101.6mm
光源	He-Neレーザー
カメラ	1/1.2インチ, 有効画像数1.2K×1.2K
横解像度	全口径分解能ストライプ数＞300セット
測定モード	Sirius耐振機械位相シフトFPSIとPSI
RMS簡易繰り返し性 (2σ)	＜λ/3000
RMS波面繰り返し性 (mean+2σ)	＜0.6nm
変倍Zoom	光学ズーム連続可変1X-6X、小サイズも正確に測定できます。
アライメント方式	高速デジタルアライメントシステムDAS、アライメント角度±3°
瞳焦点調整範囲	±2.5M
平面透過基準レンズ	石英、PV＜λ/20
平面反射基準レンズ	微結晶、PV＜λ/20
システム精度	PV＜λ/20
干渉キャビティ内寸法 (長さ×幅×高さ)	540×360×360mm
機器寸法 (長さ×幅×高さ)	640×400×1100mm
機器重量	90KG
電源	100-240VAC, 50/60Hz
作業環境温度	15℃-30℃
温度変換	＜0.5℃/h
湿度	≤ 70%
防振	機械位相シフト測定モードの時は受動防振システムを使用してください。
品質基準	GJB/J6221-2008