IEEEのSTD208-1995に適合したテストチャートで各種光学機器の性能評価に活用されます。
渋谷光学の解像度チャートは温度変化による変質に強い合成石英を使用しております。
お客様の用途に合わせポジタイプとネガタイプを標準品として取り揃えました。
IEEE-30P
IEEE-30N| 型番 | IEEE-30P | IEEE-30N |
|---|---|---|
| 材質 | 合成石英 | 合成石英 |
| タイプ | ポジタイプ | ネガタイプ |
| 印刷精度 | ±0.001mm | ±0.001mm |
| 寸法 | 48×40mm (厚み1.5mm) | 48×40mm (厚み1.5mm) |
| 定価 | 44,000円(税抜40,000円) | 44,000円(税抜40,000円) |
| 詳細図 |
株式会社渋谷光学
